Tecnología y soluciones

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01 Límites de rendimiento de CVD SiC, TaC y SiC sólido en procesos de epitaxia y grabado
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01 Límites de rendimiento de CVD SiC, TaC y SiC sólido en procesos de epitaxia y grabado

La selección del recubrimiento CVD SiC, TaC o SiC sólido correcto determina directamente los niveles de partículas y la vida útil de los componentes en las líneas de epitaxia/grabado. Este artículo proporciona límites de selección claros por temperatura, atmósfera y proceso, combinados con importantes soluciones de reemplazo de equipos y métricas clave, para ayudarlo a tomar decisiones rápidas y reducir el riesgo.
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Tecnología láser guiada por agua: mecanizado de microagujeros de precisión para sustratos de SiC
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Tecnología láser guiada por agua: mecanizado de microagujeros de precisión para sustratos de SiC

Descubra cómo la tecnología láser guiada por agua de VeTek ofrece orificios pasantes uniformes de Φ0,15 mm en sustratos de SiC de 2 mm sin conicidad, HAZ mínima y alto rendimiento para aplicaciones de semiconductores.
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Solución de pasador de elevación hueco VETEK-AMAT: sustrato de grafito de alta pureza con revestimiento CVD SiC
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Solución de pasador de elevación hueco VETEK-AMAT: sustrato de grafito de alta pureza con revestimiento CVD SiC

El problema técnico más desafiante para los pasadores elevadores huecos de equipos semiconductores no es el recubrimiento de la superficie exterior, sino lograr un recubrimiento CVD estable y uniforme en la pared interna de la estructura hueca. Desde el control de la uniformidad del revestimiento de la pared interna hasta la garantía de la limpieza del orificio interno, cada paso del proceso afecta directamente el rendimiento de la oblea. Este artículo analiza los desafíos principales del revestimiento de la pared interior de pasadores de elevación huecos y las vías técnicas clave.
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